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    光電輪廓儀

    簡要描述:光電輪廓儀的應用範圍很廣,它主要用於測量各種精密加工零件表麵的微觀三維結構,如表麵粗糙度;零件表麵的刻線;刻槽的深度和鍍層的厚度等。具體地說,如量塊、光學零件表麵的粗糙度;標尺、度盤的刻線深度;光柵的槽形結構;鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌;磁(光)盤、磁頭表麵結構測量;矽片表麵粗糙度及其上圖形結構測量等等。

    基礎信息

    產品型號

    WGL

    廠商性質

    生產廠家

    更新時間

    2021-11-03

    瀏覽次數

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    詳細介紹

     

    WGL光電輪廓儀的產品介紹

    儀器由倒置式改為正置式,更符合人們的操作習慣;
    應用CMOS代替CCD,省去圖象卡並提高了質量;
    用低壓電源代替高壓電源,節省了儀器成本;
    用國產的代替德國進口壓電陶瓷,解決了關鍵部件的進口難題;
    增加了自動步距和亮度校正程序,同時增加了局部放大三維立體圖功能;

     WGL光電輪廓儀的參數
    表麵微觀不平深度測量範圍:130?1nm
     測量的重複性:sRa≤0.5nm
     測量精度:8nm
     物鏡倍率:40X
     數值孔徑:0.65
     儀器視場  目視:f0.25mm
                    攝象:0.13X0.13mm
    儀器放大倍數  目視:500X 
                          攝象(計算機屏幕觀察):2500X
      接收器測量列陣:1000X1000
      象素尺寸:5.2X5.2?m

     
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