光電輪廓儀

簡要描述：光電輪廓儀的應用範圍很廣，它主要用於測量各種精密加工零件表麵的微觀三維結構，如表麵粗糙度；零件表麵的刻線；刻槽的深度和鍍層的厚度等。具體地說，如量塊、光學零件表麵的粗糙度；標尺、度盤的刻線深度；光柵的槽形結構；鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌；磁（光）盤、磁頭表麵結構測量；矽片表麵粗糙度及其上圖形結構測量等等。

基礎信息

產品型號

WGL

廠商性質

生產廠家

更新時間

2021-11-03

瀏覽次數

3606

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

物理特性儀器

熔點儀旋光儀係列折射儀係列霧度儀金相顯微鏡生物顯微鏡光色度儀係列滴點軟化點測定儀應力儀酶標儀農藥殘毒測定儀輪廓儀測厚儀熱分析儀振動篩粒度儀

氣相色譜出現“N“ 或 “W”峰及舌頭峰的原因

詳細介紹

WGL光電輪廓儀的產品介紹

儀器由倒置式改為正置式，更符合人們的操作習慣；
應用CMOS代替CCD，省去圖象卡並提高了質量；
用低壓電源代替高壓電源，節省了儀器成本；
用國產的代替德國進口壓電陶瓷，解決了關鍵部件的進口難題；
增加了自動步距和亮度校正程序，同時增加了局部放大三維立體圖功能；

WGL光電輪廓儀的參數
表麵微觀不平深度測量範圍：130?1nm
測量的重複性：sRa≤0.5nm
測量精度：8nm
物鏡倍率：40X
數值孔徑：0.65
儀器視場目視：f0.25mm
攝象：0.13X0.13mm
儀器放大倍數目視：500X
攝象（計算機屏幕觀察）：2500X
接收器測量列陣：1000X1000
象素尺寸：5.2X5.2?m

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